全反射X射线荧光光谱仪

[ 基础信息 ]
生产国家 : 中华人民共和国
制造厂商 : 德国BRUKER
购置日期 : 2018-12-13
规格型号 : S4 TSTAR
[ 分类信息 ]
设备类型 :
设备编号 : 19A02944
[ 联系信息 ]
联系人 : 祁智
存放地址 : 校医院二楼玉泉校区 草地健康中心
联系电话 :
联系邮箱 :
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :

30 mm石英盘及配套托盘

主要功能及特色 :

主要功能:TXRF光谱法测试样品中多种元素含量。
特色:
1.自动质检程序
S4 T-STAR 自动启动 QC 例程。集成的 QA 样品允许进行稳定性和灵敏度检查。
2.Easyload™ 采样站
提供适用于不同样品类型的专用托盘。插入时自动识别托盘。
3.高样品容量
S4 T-STAR 提供多达 90 个样品光盘的高容量。支持自动批处理,可在夜间实现高效测量。专为多用户操作而设计,可装载多达 10 个样品托盘。在仪器测量另一个样品时加载和卸载。
4.精心设计的存储解决方案
托盘可以存放在可堆叠的盒子中。样品载体的污染预防。底板包括用于直接移液样品的中心标记。
5.方便的样品控制和存档
使用CCD相机控制样品质量。样本图像会自动存档以供后续查看。

主要规格及技术指标 :

1.元素范围:Mo激发: Mg到U(Nb到Ru除外);W激发:K到U。
2.浓度:ppb到100%
3.检测限:<1pg镍
4.样品类型:液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄层、组织、晶片、过滤器等。
5.样品体积:液体和悬浮液从1µl到50µl。颗粒直径高达100µm,粉末高达10µg。
6.样品转换器:自动样品转换器10个托盘,样品托盘类型自动检测
7.容量样品托盘:1: 30 mm圆盘,最多90个圆盘。
8.x射线管:50 W金属陶瓷,最大值50 W。50 kV,1 mA,风冷式最大值50 kV,1 mA。
9.X射线光学:多层单色仪
10.激发模式:Mo-K,17.5 keV W-Brems,35 keV;W-L,8.4 keV Cu-K,8.0 keV Cr-K,5.4 keV
11.探测器:颗粒冷却XFlash®硅流移探测器。不需要液氮。60平方毫米活动区域,可选: 100平方毫米活跃区。能量分辨率<149eV100kcps(MnKa)。
12.接口:通过TCP/IP进行数据交换(RJ45电缆)
13.电源:100/240 V,50/60 Hz
14.尺寸:528毫米x 693毫米x 512毫米(高度x宽度x深度)
15.重量:85公斤

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[ 开放机时安排 ]
[ 参考收费标准 ]