高分辨场发射透射电子显微镜
[ 基础信息 ]
生产国家 : 中华人民共和国
制造厂商 : 美国FEI
购置日期 : 2011-06-25
规格型号 : FEI
[ 分类信息 ]
设备类型 :
设备编号 : 12004165
[ 联系信息 ]
联系人 : 柴占丽
存放地址 : 电镜中心实验楼A座玉泉校区
联系电话 : 13634715434
联系邮箱 : chai_zl@hotmail.com
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
200kV场发射透射电镜主机；样品杆(单倾+双倾)；扫描透射附件STEM系统；高角环状暗场探头(HAADF)；能谱仪系统(EDAX)；伸缩式超薄窗能谱仪探测器；
CCD数字相机系统(Gatan 832)；原位加热/加电样品杆（DENS）
主要功能及特色 :
主要应用于对各种材料内部微结构进行观察 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察 选区电子衍射和晶体结构分析 金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析 配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及各种元素进行定性和半定量微区分析，选择特定设计的样品台进行原位动态实验。
主要规格及技术指标 :
样品要求：1、透射电镜不做磁性样品；2、对于粉末样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥，能够区分支持膜正反面；3、对于块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下；4、 高分辨样品要求厚度在10nm以下。
